一些實(shí)驗(yàn)室分析天平，通常是分析或半微型模型，具有統(tǒng)計(jì)功能。但是，這是什么意思？您如何使用這些數(shù)據(jù)？值得購(gòu)買帶有該功能的電子天平嗎？在這篇文章中，我們將解釋與實(shí)驗(yàn)室天平有關(guān)的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

什么是統(tǒng)計(jì)？

就我們的目的而言，統(tǒng)計(jì)量被定義為來(lái)自數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)集的數(shù)據(jù)。

一些電子天平，例如分析和半微量量程，使用戶能夠以各種模式收集統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。用戶可以在稱量，計(jì)數(shù)或百分比稱量模式下收集統(tǒng)計(jì)信息。

實(shí)驗(yàn)室天平收集的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)：

容差：用戶可以設(shè)置容差，以決定應(yīng)在統(tǒng)計(jì)信息中保留哪些數(shù)據(jù)集。例如，如果您知道自己的測(cè)量值應(yīng)在0.056到0.732克之間，則可以排除低于或超過(guò)這些限制的任何值。這樣一來(lái)，您就可以擺脫可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)混亂的離群值（例如，標(biāo)準(zhǔn)差的系數(shù)），也可以選擇要分析的特定集。

最小值和最大值：測(cè)量值記錄的最大值和最小值。

差異：最大值和最小值之間的差異。

總和：最大值和最小值的總和。

平均值：記錄的所有測(cè)量值的平均值，計(jì)算方法是將所有測(cè)量值的總和除以測(cè)量值的數(shù)量。

標(biāo)準(zhǔn)偏差：指示一組測(cè)量值的偏差或變化的度量。它表明您的測(cè)量結(jié)果彼此之間的差異。

標(biāo)準(zhǔn)偏差系數(shù)：指示數(shù)據(jù)相對(duì)變化的百分比。它是標(biāo)準(zhǔn)偏差與平均值的比率。余額之所以包括在內(nèi)，是因?yàn)樗梢栽试S用戶比較不同數(shù)據(jù)集的結(jié)果，即使對(duì)它們的評(píng)估方式不同。

對(duì)于單次測(cè)量，標(biāo)準(zhǔn)偏差很有用，但是系數(shù)可以更好地衡量多個(gè)數(shù)據(jù)集的變化，并且可以考慮上下文。

天平還記錄您稱量了多少個(gè)樣品，參考（如果有）和統(tǒng)計(jì)信息收集方式的參數(shù)。

還允許用戶使用自定義統(tǒng)計(jì)方法存儲(chǔ)，調(diào)用和創(chuàng)建數(shù)據(jù)庫(kù)。用戶可以存儲(chǔ)描述，標(biāo)稱重量和公差。天平將自動(dòng)檢查該方法，以確保用戶保存該方法時(shí)正確無(wú)誤。您可以根據(jù)需要通過(guò)RS-232或USB接口將數(shù)據(jù)輸出到打印機(jī)，直接輸出到計(jì)算機(jī)或閃存驅(qū)動(dòng)器。

重點(diǎn)是什么？

您可以收集統(tǒng)計(jì)信息。大事了 但是如何使用它們？這種數(shù)據(jù)有許多不同的用途。可以保存統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，以進(jìn)行可追溯性和評(píng)估儀器的研究和實(shí)驗(yàn)。他們可以洞察天平對(duì)某些任務(wù)的適用性。統(tǒng)計(jì)對(duì)于質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室特別有用，在質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室中，對(duì)過(guò)程的每個(gè)部分都進(jìn)行仔細(xì)檢查。

科學(xué)家可以獲取原始數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析，以揭示模式，確認(rèn)或拒絕假設(shè)，找到相關(guān)性等等。您可以使用統(tǒng)計(jì)信息來(lái)查找標(biāo)準(zhǔn)差和其他信息，這些信息將幫助您確定數(shù)據(jù)是否可用于研究。統(tǒng)計(jì)信息可以顯示錯(cuò)誤，或者結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)偏差是否可以接受，并且設(shè)置公差可確保您擁有干凈的數(shù)據(jù)集。從醫(yī)學(xué)到質(zhì)量測(cè)試，統(tǒng)計(jì)信息可用于了解有關(guān)測(cè)試材料及其使用方法的更多信息。